QFN, QFP, Socket
QFN/QFP35 测试插座专为测试高机能的四方扁平无引脚（QFN）、、四方扁平封装（QFP）、、双侧引脚扁平封装（DFN）以及小外形封装（SO）等各类封装而设计 。。
合用于产品开发、、个性分析、、高速老化测试以及小批量出产的手动测试环节；；
重要特点：：：
适配QFN、、QFP、、DFN和SOIC 封装 。。
可用于：：：芯片开发、、认证、、高速老化、、小批量出产 。。
微型冲压触点，极短信号蹊径 。。
去耦空间，允许在近器件地位搁置无源器件 。。
合用多个兼容接地触点，可降低接地电感 。。
合用于产品开发、、个性分析、、高速老化测试以及小批量出产的手动测试环节；；
重要特点：：：
适配QFN、、QFP、、DFN和SOIC 封装 。。
可用于：：：芯片开发、、认证、、高速老化、、小批量出产 。。
微型冲压触点，极短信号蹊径 。。
去耦空间，允许在近器件地位搁置无源器件 。。
合用多个兼容接地触点，可降低接地电感 。。
